Par arrêté de la ministre de l'enseignement supérieur, de la recherche et de l'innovation en date du 13 mai 2020, est autorisée au titre de l'année 2020 l'ouverture d'un examen professionnel pour l'avancement au grade de technicien de recherche et de formation de classe exceptionnelle.
Le nombre de postes offerts à cet examen professionnel est fixé à 153.
Les dossiers de candidature seront téléchargés du 19 mai 2020, à partir de 12 heures, au 18 juin 2020, 12 heures, heure de Paris, par internet à l'adresse suivante : http://www.enseignementsup-recherche.gouv.fr/recrutements/itrf.
En cas d'impossibilité de se connecter pour télécharger leur dossier, les candidats pourront, sur demande écrite, obtenir un dossier imprimé. Ce courrier, accompagné d'une enveloppe au format 22,9 × 32,4 cm affranchie au tarif en vigueur correspondant à un poids jusqu'à 100 grammes et libellée au nom et à l'adresse du candidat, devra être adressé par voie postale et en recommandé simple au ministère de l'enseignement supérieur et de la recherche à l'adresse indiquée ci-dessous. Les candidats devront veiller à demander leur dossier suffisamment tôt pour tenir compte des délais d'acheminement du courrier.
Le dossier de candidature dûment complété devra être renvoyé obligatoirement par voie postale et en recommandé simple au plus tard le 18 juin 2020 avant minuit, le cachet de la poste faisant foi, à l'adresse suivante : ministère de l'enseignement supérieur et de la recherche, DGRH D5, bureau chargé des concours ITRF, TECH CE 2020, 72, rue Regnault, 75243 Paris Cedex 13.
Aucun dossier posté hors délai ne sera pris en compte.
Seuls les dossiers de la session 2020 doivent être utilisés : aucun dossier établi lors d'une session antérieure ne sera pris en compte et la candidature en cause sera déclarée irrecevable.
La date de l'épreuve, qui se déroulera à Paris, sera fixée ultérieurement.
Elle sera communiquée aux candidats via l'application WebITRF accessible à l'adresse suivante : http://www.enseignementsup-recherche.gouv.fr/recrutements/itrf.